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碳化硅檢測的顯微圖象法

文章出處:原創(chuàng )網(wǎng)責任編輯:劉坤尚作者:王曉曉人氣:-發(fā)表時(shí)間:2015-01-02 16:52:00【

  金蒙新材料使用的顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數碼像機)、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的碳化硅顆粒圖像通過(guò)CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸到計算機中,由計算機對這些圖像進(jìn)行邊緣識別等處理,計算出每個(gè)黑碳化硅微粉和綠碳化硅微粉的顆粒的投影面積,根據等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑,再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量,就可以得到粒度分布了。

  由于這種方法單次所測到的碳化硅微粉的顆粒個(gè)數較少,對同一個(gè)樣品可以通過(guò)更換視場(chǎng)的方法進(jìn)行多次測量來(lái)提高測試結果的真實(shí)性。除了進(jìn)行碳化硅微粉粒度測試之外,顯微圖象法還常用來(lái)觀(guān)察和測試碳化硅顆粒的形貌。

此文關(guān)鍵字:碳化硅 碳化硅微粉